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1
Local atomic structure analysis around Mg atom doped in GaN by X-ray absorption spectroscopy and spectrum simulations
von
Isomura
,
Noritake
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2021)
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2
A practical method for determining film thickness using X-ray absorption spectroscopy in total electron yield mode
von
Isomura
,
Noritake
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2021)
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3
Thickness of carbon coatings on silicon materials determined by hard X-ray photoelectron spectroscopy at multiple photon energies
von
Isomura
,
Noritake
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2019)
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4
Local atomic structure analysis of GaN surfaces via X-ray absorption spectroscopy by detecting Auger electrons with low energies
von
Isomura
,
Noritake
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2019)
Online-Aufsatz
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5
Distinguishing nitrogen-containing sites in SiO2/4H-SiC(0001) after nitric oxide annealing by X-ray absorption spectroscopy
von
Isomura
,
Noritake
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2019)
Online-Aufsatz
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6
Surface EXAFS via differential electron yield
von
Isomura
,
Noritake
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2017)
Online-Aufsatz
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7
A new EXAFS method for the local structure analysis of low-Z elements
von
Isomura
,
Noritake
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2016)
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