Suchergebnisse - "metrology"

1

Laboratory-based 3D X-ray standing-wave analysis of nanometre-scale gratings

von Matveevskii, Ksenia
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2024)
Schlagworte: “...misc laboratory metrology...”

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2

An active piezoelectric plane X-ray focusing mirror with a linearly changing thickness

von Tian, Naxi
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2024)
Schlagworte: “...misc speckle metrology...”

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3

Self-calibration strategies for reducing systematic slope measurement errors of autocollimators in deflectometric profilometry

von Geckeler, Ralf D
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2024)
Schlagworte: “...misc angle metrology...”

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4

At-wavelength metrology of an X-ray mirror using a downstream wavefront modulator

von Zhou, Tunhe
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2024)
Schlagworte: “...misc metrology...”

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5

$Double-edge scan wavefront metrology and its application in crystal diffraction wavefront measurements$

Double-edge scan wavefront metrology and its application in crystal diffraction wavefront measurements

von Liu, Fang
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2024)
Schlagworte: “...misc wavefront metrology...”

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6

The Effect of Relative Humidity in Conductive Atomic Force Microscopy

von Yuan, Yue
Veröffentlicht in: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2024)
Schlagworte: “...misc metrology...”

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7

X-ray mirrors with sub-nanometre figure errors obtained by differential deposition of thin WSi2 films

von Bras, Patrice
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2023)
Schlagworte: “...misc off-line metrology...”

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8

$At-wavelength characterization of X-ray wavefronts in Bragg diffraction from crystals$

At-wavelength characterization of X-ray wavefronts in Bragg diffraction from crystals

von Shi, Xianbo
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2023)
Schlagworte: “...misc at-wavelength metrology...”

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9

Two-dimensional speckle technique for slope error measurements of weakly focusing reflective X-ray optics

von Hu, Lingfei
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2022)
Schlagworte: “...misc at-wavelength metrology...”

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10

speckle-tracking a software suite for ptychographic X-ray speckle tracking

von Morgan, Andrew J
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2020)
Schlagworte: “...misc wavefront metrology...”

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11

Ptychographic X-ray speckle tracking

von Morgan, Andrew J
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2020)
Schlagworte: “...misc wavefront metrology...”

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12

X-ray optics and beam characterization using random modulation theory

von Berujon, Sebastien
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2020)
Schlagworte: “...misc at-wavelength metrology...”

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13

X-ray optics and beam characterization using random modulation experiments

von Berujon, Sebastien
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2020)
Schlagworte: “...misc at-wavelength metrology...”

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14

Ptychographic X-ray speckle tracking with multi-layer Laue lens systems

von Morgan, Andrew J
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2020)
Schlagworte: “...misc wavefront metrology...”

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15

X-ray mirror figure correction by differential deposition and off-line metrology

von Morawe, Christian
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2019)
Schlagworte: “...misc off-line metrology...”

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16

Metrology characterization of ultraprecise bendable mirrors for the European XFEL from offsite calibration to installation and commissioning

von Vannoni, Maurizio
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2019)
Schlagworte: “...misc metrology...”

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17

The battle of the standards Messen, Zählen und Wiegen in Westeuropa 1660-1914

von Kramper, Peter 1975-
Veröffentlicht: Berlin Boston : De Gruyter Oldenbourg, 2019
Schlagworte: “...misc Metrology...”

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18

A piezoelectric deformable X-ray mirror for phase compensation based on global optimization

von Jiang, Hui
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2019)
Schlagworte: “...misc speckle scanning metrology...”

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19

The making of measure and the promise of sameness

von Lugli, Emanuele 1979-
Veröffentlicht: Chicago London : University of Chicago Press, 2019
Schlagworte: “...misc Metrology-Italy-History-To 1500...”

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20

Robust structured-light depth mapping via recursive decomposition of binary codes

von Feng, Xiaohua
Veröffentlicht in: Optical engineering (Redondo Beach, Calif.) (2019)
Schlagworte: “...misc optical metrology...”

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