Ptychographic X-ray speckle tracking
© Andrew J. Morgan et al. 2020.
| Veröffentlicht in: | Journal of applied crystallography. - 1998. - 53(2020), Pt 3 vom: 01. Juni, Seite 760-780 |
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| Weitere Verfasser: | , , |
| Format: | Online-Aufsatz |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2020
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of applied crystallography |
| Schlagworte: | Journal Article X-ray speckle tracking in-line projection holography phase retrieval ptychography wavefront metrology |
| Online verfügbar |
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