© Andrew J. Morgan et al. 2020.
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Journal of applied crystallography. - 1998. - 53(2020), Pt 4 vom: 01. Aug., Seite 927-936
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| 1. Verfasser: |
Morgan, Andrew J
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Murray, Kevin T,
Prasciolu, Mauro,
Fleckenstein, Holger,
Yefanov, Oleksandr,
Villanueva-Perez, Pablo,
Mariani, Valerio,
Domaracky, Martin,
Kuhn, Manuela,
Aplin, Steve,
Mohacsi, Istvan,
Messerschmidt, Marc,
Stachnik, Karolina,
Du, Yang,
Burkhart, Anja,
Meents, Alke,
Nazaretski, Evgeny,
Yan, Hanfei,
Huang, Xiaojing,
Chu, Yong S,
Chapman, Henry N,
Bajt, Saša |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2020
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of applied crystallography
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| Schlagworte: | Journal Article
X-ray optics
X-ray speckle tracking
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ptychography
wavefront metrology |
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