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Ptychographic X-ray speckle tracking with multi-layer Laue lens systems
von
Morgan, Andrew J
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2020)
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Post-sample aperture for low background diffraction experiments at X-ray free-electron lasers
von
Wiedorn, Max O
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2017)
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X-ray diffraction
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X-ray speckle tracking
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