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1
Double-edge scan wavefront metrology and its application in crystal diffraction wavefront measurements
von
Liu, Fang
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2024)
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2
Ptychographic X-ray speckle tracking
von
Morgan, Andrew J
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2020)
Online-Aufsatz
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3
speckle-tracking a software suite for ptychographic X-ray speckle tracking
von
Morgan, Andrew J
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2020)
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4
Ptychographic X-ray speckle tracking with multi-layer Laue lens systems
von
Morgan, Andrew J
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2020)
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5
X-ray grating interferometer for in situ and at-wavelength wavefront metrology
von
Kayser, Yves
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2017)
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