© Andrew J. Morgan et al. 2020.
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Journal of applied crystallography. - 1998. - 53(2020), Pt 6 vom: 01. Dez., Seite 1603-1612
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| 1. Verfasser: |
Morgan, Andrew J
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Murray, Kevin T,
Quiney, Harry M,
Bajt, Saša,
Chapman, Henry N |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2020
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of applied crystallography
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| Schlagworte: | Journal Article
X-ray projection imaging
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wavefront metrology |
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