The Effect of Relative Humidity in Conductive Atomic Force Microscopy

The Effect of Relative Humidity in Conductive Atomic Force Microscopy

© 2024 The Author(s). Advanced Materials published by Wiley‐VCH GmbH.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 36(2024), 51 vom: 11. Dez., Seite e2405932
1. Verfasser: Yuan, Yue (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Lanza, Mario
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article 2D materials conductive atomic force microscopy metrology nanoelectronics relative humidity
Online verfügbar Volltext