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Journal Article
7
grazing-incidence X-ray diffraction
thin films
3
GIDVis
1
GaAs
1
Ge heteroepitaxy
1
GenX
1
mehr ...
Research Support, Non-U.S. Gov't
1
X-ray reflectivity
1
X-ray refraction
1
X-ray scattering
1
atomic force microscopy
1
computer programs
1
crystallographic unit cells
1
electrical anisotropy
1
epitaxy
1
grazing-incidence diffraction
1
growth
1
indexing
1
morphology
1
nanostructured Si
1
organic semiconductors
1
organic thin films
1
pole figures
1
polymorphism
1
reciprocal space mapping
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refraction correction
1
semiconductor nanowires
1
silicon-on-insulator (SOI) substrates
1
software
1
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1
GIDInd an automated indexing software for grazing-incidence X-ray diffraction data
von
Kainz, Manuel Peter
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2021)
Online-Aufsatz
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2
Polymorphism and structure formation in copper phthalocyanine thin films
von
Reisz, Berthold
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2021)
Online-Aufsatz
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3
GIDVis a comprehensive software tool for geometry-independent grazing-incidence X-ray diffraction data analysis and pole-figure calculations
von
Schrode, Benedikt
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2019)
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4
Multiple scattering in grazing-incidence X-ray diffraction impact on lattice-constant determination in thin films
von
Resel, Roland
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2016)
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5
Grazing-incidence X-ray diffraction of single GaAs nanowires at locations defined by focused ion beams
von
Bussone, Genziana
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2013)
Aufsatz
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6
X-ray characterization of Ge dots epitaxially grown on nanostructured Si islands on silicon-on-insulator substrates
von
Zaumseil, Peter
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2013)
Aufsatz
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7
Enhancement of field-effect mobility due to structural ordering in poly(3-hexylthiophene) films by the dip-coating technique
von
Ali, Kamran
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2013)
Aufsatz
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