Résultat(s) 1 - 2 résultats de 2 pour la requête 'Zaumseil, Peter', Temps de recherche: 1,63s Affiner les résultats
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    High-resolution characterization of the forbidden Si 200 and Si 222 reflections
    Article

  2. 2
    X-ray characterization of Ge dots epitaxially grown on nanostructured Si islands on silicon-on-insulator substrates
    Article

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