Résultat(s) 1 - 2 résultats de 2 pour la requête 'Gasser, Fabian', Temps de recherche: 2,28s Affiner les résultats
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    A systematic approach for quantitative orientation and phase fraction analysis of thin films through grazing-incidence X-ray diffraction

    Article en ligne

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    Intensity corrections for grazing-incidence X-ray diffraction of thin films using static area detectors

    Article en ligne

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