Polymorphism and structure formation in copper phthalocyanine thin films

© Berthold Reisz et al. 2021.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied crystallography. - 1998. - 54(2021), Pt 1 vom: 01. Feb., Seite 203-210
1. Verfasser: Reisz, Berthold (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Belova, Valentina, Duva, Giuliano, Zeiser, Clemens, Hodas, Martin, Hagara, Jakub, Šiffalovič, Peter, Pithan, Linus, Hosokai, Takuya, Hinderhofer, Alexander, Gerlach, Alexander, Schreiber, Frank
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2021
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of applied crystallography
Schlagworte:Journal Article GenX X-ray reflectivity atomic force microscopy grazing-incidence X-ray diffraction morphology organic semiconductors polymorphism reciprocal space mapping thin films