High Mobility MoS2 Transistor with Low Schottky Barrier Contact by Using Atomic Thick h-BN as a Tunneling Layer

© 2016 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 28(2016), 37 vom: 08. Okt., Seite 8302-8308
1. Verfasser: Wang, Jingli (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Yao, Qian, Huang, Chun-Wei, Zou, Xuming, Liao, Lei, Chen, Shanshan, Fan, Zhiyong, Zhang, Kai, Wu, Wei, Xiao, Xiangheng, Jiang, Changzhong, Wu, Wen-Wei
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2016
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article MoS2 contact resistance hexagonal boron nitride tunneling