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1
Multiple scattering in grazing-incidence X-ray diffraction impact on lattice-constant determination in thin films
von
Resel, Roland
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2016)
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2
Structural investigations of the α12 Si-Ge superstructure
von
Etzelstorfer, Tanja
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2015)
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X-ray diffraction strain analysis of a single axial InAs 1-x Px nanowire segment
von
Keplinger, Mario
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2015)
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4
Scanning X-ray strain microscopy of inhomogeneously strained Ge micro-bridges
von
Etzelstorfer, Tanja
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2014)
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5
The benefit of the European User Community from transnational access to national radiation facilities
von
Barrier, Elise
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2014)
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6
xrayutilities a versatile tool for reciprocal space conversion of scattering data recorded with linear and area detectors
von
Kriegner, Dominik
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2013)
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7
Coherence and wavefront characterization of Si-111 monochromators using double-grating interferometry
von
Diaz, Ana
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2010)
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