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$X-ray diffraction strain analysis of a single axial InAs 1-x Px nanowire segment$

X-ray diffraction strain analysis of a single axial InAs 1-x Px nanowire segment

von Keplinger, Mario
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2015)

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Hot carrier filtering in solution processed heterostructures a paradigm for improving thermoelectric efficiency

von Zhang, Yichi
Veröffentlicht in: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2014)

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