Résultat(s) 1 - 2 résultats de 2 pour la requête 'Keplinger, Mario', Temps de recherche: 1,47s Affiner les résultats
  1. 1
    X-ray diffraction strain analysis of a single axial InAs 1-x Px nanowire segment

    Article en ligne

  2. 2
    Coherence and wavefront characterization of Si-111 monochromators using double-grating interferometry
    par Diaz, Ana
    Publié dans: Journal of synchrotron radiation (2010)
    Autres auteurs: “...Keplinger, Mario...”

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