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1
The Heisenberg-RIXS instrument at the European XFEL
von
Schlappa, Justine
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2025)
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Simo
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Study on the reflectivity properties of spherically bent analyser crystals. Corrigendum
von
Honkanen, Ari Pekka
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2017)
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,
Simo
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3
Improving the energy resolution of bent crystal X-ray spectrometers with position-sensitive detectors
von
Honkanen, Ari Pekka
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2014)
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,
Simo
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4
Study on the reflectivity properties of spherically bent analyser crystals
von
Honkanen, Ari-Pekka
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2014)
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,
Simo
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5
X-ray-Raman-scattering-based EXAFS beyond the dipole limit
von
Huotari
,
Simo
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2012)
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6
Multiple-element spectrometer for non-resonant inelastic X-ray spectroscopy of electronic excitations
von
Verbeni, Roberto
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2009)
Weitere Verfasser:
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...
Huotari
,
Simo
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7
Directional lithium hydride Compton profiles of 0.1% statistical accuracy
von
Huotari
,
Simo
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2009)
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