Study on the reflectivity properties of spherically bent analyser crystals
Theoretical and experimental studies are presented on properties of spherically bent analyser crystals for high-resolution X-ray spectrometry. A correction to the bent-crystal strain field owing to its finite surface area is derived. The results are used to explain the reflectivity curves and anisot...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 21(2014), Pt 1 vom: 15. Jan., Seite 104-10
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| 1. Verfasser: |
Honkanen, Ari-Pekka
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Verbeni, Roberto,
Simonelli, Laura,
Moretti Sala, Marco,
Monaco, Giulio,
Huotari, Simo |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2014
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of synchrotron radiation
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| Schlagworte: | Journal Article
bent crystals
high-energy-resolution analysers
inelastic X-ray scattering |
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