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TEXS in-vacuum tender X-ray emission spectrometer with 11 Johansson crystal analyzers
par
Rovezzi, Mauro
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Journal of synchrotron radiation
(2020)
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2
Study on the reflectivity properties of spherically bent analyser crystals. Corrigendum
par
Honkanen, Ari Pekka
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2017)
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Roberto
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3
Improving the energy resolution of bent crystal X-ray spectrometers with position-sensitive detectors
par
Honkanen, Ari Pekka
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2014)
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Study on the reflectivity properties of spherically bent analyser crystals
par
Honkanen, Ari-Pekka
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2014)
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Verbeni
,
Roberto
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Multiple-element spectrometer for non-resonant inelastic X-ray spectroscopy of electronic excitations
par
Verbeni
,
Roberto
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2009)
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Journal Article
Research Support, Non-U.S. Gov't
bent crystals
high-energy-resolution analysers
inelastic X-ray scattering
Johansson crystal analyzers
Published Erratum
X-ray instrumentation
X-ray optics
X-ray spectrometers
bent analyser crystals
position-sensitive detectors
tender X-rays
wavelength dispersive spectrometer
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