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1
TEXS in-vacuum tender X-ray emission spectrometer with 11 Johansson crystal analyzers
von
Rovezzi, Mauro
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2020)
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Study on the reflectivity properties of spherically bent analyser crystals. Corrigendum
von
Honkanen, Ari Pekka
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2017)
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,
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3
Study on the reflectivity properties of spherically bent analyser crystals
von
Honkanen, Ari-Pekka
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2014)
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,
Roberto
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4
Improving the energy resolution of bent crystal X-ray spectrometers with position-sensitive detectors
von
Honkanen, Ari Pekka
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2014)
Weitere Verfasser:
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,
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5
Multiple-element spectrometer for non-resonant inelastic X-ray spectroscopy of electronic excitations
von
Verbeni
,
Roberto
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2009)
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Journal Article
Research Support, Non-U.S. Gov't
bent crystals
high-energy-resolution analysers
inelastic X-ray scattering
Johansson crystal analyzers
Published Erratum
X-ray instrumentation
X-ray optics
X-ray spectrometers
bent analyser crystals
position-sensitive detectors
tender X-rays
wavelength dispersive spectrometer
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