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    Crystal bending in triple-Laue X-ray interferometry. Part I. Theory

    Article en ligne

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    Crystal bending in triple-Laue X-ray interferometry. Part II. Phase-contrast topography
    par Massa, E
    Publié dans: Journal of applied crystallography (2023)

    Article en ligne

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    X-ray diffraction reveals the amount of strain and homogeneity of extremely bent single nanowires

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    Study on the reflectivity properties of spherically bent analyser crystals. Corrigendum

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  5. 5
    Study on the reflectivity properties of spherically bent analyser crystals

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