X-ray diffraction reveals the amount of strain and homogeneity of extremely bent single nanowires

© Arman Davtyan et al. 2020.

Détails bibliographiques
Publié dans:Journal of applied crystallography. - 1998. - 53(2020), Pt 5 vom: 01. Okt., Seite 1310-1320
Auteur principal: Davtyan, Arman (Auteur)
Autres auteurs: Kriegner, Dominik, Holý, Václav, AlHassan, Ali, Lewis, Ryan B, McDermott, Spencer, Geelhaar, Lutz, Bahrami, Danial, Anjum, Taseer, Ren, Zhe, Richter, Carsten, Novikov, Dmitri, Müller, Julian, Butz, Benjamin, Pietsch, Ullrich
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2020
Accès à la collection:Journal of applied crystallography
Sujets:Journal Article bent crystals nano-focused X-ray beams nanowires