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  1. 1
    Beam damage of single semiconductor nanowires during X-ray nanobeam diffraction experiments
    von Al Hassan, Ali
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2020)
    Weitere Verfasser: “...Davtyan, Arman...”

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  2. 2
    X-ray diffraction reveals the amount of strain and homogeneity of extremely bent single nanowires
    von Davtyan, Arman
    Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2020)

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  3. 3
    Threefold rotational symmetry in hexagonally shaped core-shell (In,Ga)As/GaAs nanowires revealed by coherent X-ray diffraction imaging
    von Davtyan, Arman
    Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2017)

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  4. 4
    Characterization of individual stacking faults in a wurtzite GaAs nanowire by nanobeam X-ray diffraction
    von Davtyan, Arman
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2017)

    Online-Aufsatz

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