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X-ray Raman scattering
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5
X-ray Raman scattering
Research Support, Non-U.S. Gov't
2
inelastic X-ray scattering
2
EXAFS
1
European XFEL
1
Heisenberg RIXS
1
plus ...
Laue analyzers
1
RIXS
1
Research Support, U.S. Gov't, Non-P.H.S.
1
SiO2 glass
1
X-ray emission spectroscopy
1
X-ray resonant diffraction
1
bent Laue analyzer
1
charge order
1
cylindrically bent Laue analyzers
1
direct tomography
1
free-electron lasers
1
hRIXS
1
high pressure
1
miniature diamond anvils
1
photochemistry
1
resonant X-ray diffraction
1
resonant inelastic X-ray scattering
1
soft X-rays
1
spectroscopy
1
spherically bent Bragg analyzers
1
spin dynamics
1
spin order
1
time-resolved spectroscopy
1
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1
Cylindrically bent Laue analyzer in an X-ray Raman/emission spectrometer performance tests and a comparison with spherically bent Bragg analyzers
par
Hiraoka, Nozomu
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2025)
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2
The Heisenberg-RIXS instrument at the European XFEL
par
Schlappa, Justine
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2025)
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3
Miniature diamond anvils for X-ray Raman scattering spectroscopy experiments at high pressure
par
Petitgirard, Sylvain
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2017)
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4
Planning, performing and analyzing X-ray Raman scattering experiments
par
Sahle, Ch J
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2015)
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5
An X-ray Raman spectrometer for EXAFS studies on minerals bent Laue spectrometer with 20 keV X-rays
par
Hiraoka, N
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2013)
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