X-ray diffraction from dislocation half-loops in epitaxial films
© Vladimir M. Kaganer 2024.
| Publié dans: | Journal of applied crystallography. - 1998. - 57(2024), Pt 2 vom: 01. Apr., Seite 276-283 |
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| Auteur principal: | |
| Format: | Article en ligne |
| Langue: | English |
| Publié: |
2024
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| Accès à la collection: | Journal of applied crystallography |
| Sujets: | Journal Article epitaxial films misfit dislocations strain relaxation threading dislocations |
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