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    X-ray diffraction from dislocation half-loops in epitaxial films
    X-ray diffraction from dislocation half-loops in epitaxial films
    par Kaganer, Vladimir M
    Publié dans: Journal of applied crystallography (2024)

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    X-ray scattering study of GaN nanowires grown on Ti/Al2O3 by molecular beam epitaxy
    X-ray scattering study of GaN nanowires grown on Ti/Al2O3 by molecular beam epitaxy
    par Kaganer, Vladimir M
    Publié dans: Journal of applied crystallography (2023)

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