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X-ray diffraction from dislocation half-loops in epitaxial films
par
Kaganer
,
Vladimir
M
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2024)
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2
X-ray scattering study of GaN nanowires grown on Ti/Al2O3 by molecular beam epitaxy
par
Kaganer
,
Vladimir
M
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2023)
Article en ligne
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