Improving the energy resolution of bent crystal X-ray spectrometers with position-sensitive detectors
Wavelength-dispersive high-resolution X-ray spectrometers often employ elastically bent crystals for the wavelength analysis. In a preceding paper [Honkanen et al. (2014). J. Synchrotron Rad. 21, 104-110] a theory for quantifying the internal stress of a macroscopically large spherically curved anal...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 21(2014), Pt 4 vom: 21. Juli, Seite 762-7
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| 1. Verfasser: |
Honkanen, Ari Pekka
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Verbeni, Roberto,
Simonelli, Laura,
Moretti Sala, Marco,
Al-Zein, Ali,
Krisch, Michael,
Monaco, Giulio,
Huotari, Simo |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2014
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of synchrotron radiation
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| Schlagworte: | Journal Article
Research Support, Non-U.S. Gov't
X-ray spectrometers
bent analyser crystals
position-sensitive detectors |
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