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    High-resolution characterization of the forbidden Si 200 and Si 222 reflections
    von Zaumseil, Peter
    Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2015)
    Aufsatz

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    X-ray characterization of Ge dots epitaxially grown on nanostructured Si islands on silicon-on-insulator substrates
    von Zaumseil, Peter
    Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2013)
    Aufsatz

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