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  1. 1
    Depth-resolved compositional analysis of W/B4C multilayers using resonant soft X-ray reflectivity
    von Rao, P N
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2019)
    Weitere Verfasser: “...Ganguli, Tapas...”

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  2. 2
    Study of the microstructure information of GaAs epilayers grown on silicon substrate using synchrotron radiation
    von Kumar, Ravi
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2016)
    Weitere Verfasser: “...Ganguli, Tapas...”

    Online-Aufsatz

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