Treffer
1 - 2
von
2
für Suche '
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Merkliste
(Voll)
Hilfe
de
fr
Alle Felder
Titel
Verfasser
Schlagwort
Signatur
ISBN/ISSN
Tag
Suchen
Erweitert
Ähnliche Schlagwörter:
coherence length
Bestand:
DHI Paris
Filter anzeigen (2)
Ähnliche Schlagwörter:
coherence length
Bestand:
DHI Paris
Suchergebnisse
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
Journal Article
2
coherence length
GaAs epilayers
1
HRXRD
1
Talbot effect
1
Williamson–Hall analysis
1
beam size measurement
1
mehr ...
interferograms visibility
1
synchrotron radiation light source
1
tilt
1
twist
1
weniger ...
Treffer
1 - 2
von
2
für Suche '
'
, Suchdauer: 6,66s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Nach Datum, aufsteigend
Verfasser
Titel
1
Exploring beam size measurement based on the Talbot effect at BEPCII
von
Zhang, Wan
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2023)
Online-Aufsatz
Auf die Merkliste
Aus der Merkliste entfernen
2
Study of the microstructure information of GaAs epilayers grown on silicon substrate using synchrotron radiation
von
Kumar, Ravi
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2016)
Online-Aufsatz
Auf die Merkliste
Aus der Merkliste entfernen
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
—
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche einschränken
Bestand
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Format
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Verfasser
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Erscheinungsjahr
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Sprache
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Dokumenttyp
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Basisklassifikation
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen...