Résultat(s) 1 - 4 résultats de 4 pour la requête 'Davtyan, Arman', Temps de recherche: 1,00s Affiner les résultats
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    X-ray diffraction reveals the amount of strain and homogeneity of extremely bent single nanowires

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    Beam damage of single semiconductor nanowires during X-ray nanobeam diffraction experiments
    Autres auteurs: “...Davtyan, Arman...”

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    Threefold rotational symmetry in hexagonally shaped core-shell (In,Ga)As/GaAs nanowires revealed by coherent X-ray diffraction imaging

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    Characterization of individual stacking faults in a wurtzite GaAs nanowire by nanobeam X-ray diffraction

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