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    Double-edge scan wavefront metrology and its application in crystal diffraction wavefront measurements
    par Liu, Fang
    Publié dans: Journal of synchrotron radiation (2024)

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    Ptychographic X-ray speckle tracking

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    Ptychographic X-ray speckle tracking with multi-layer Laue lens systems

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    speckle-tracking a software suite for ptychographic X-ray speckle tracking

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    X-ray grating interferometer for in situ and at-wavelength wavefront metrology

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