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$High-resolution imaging of organic and inorganic nanoparticles at nanometre-scale resolution by X-ray ensemble diffraction microscopy$

High-resolution imaging of organic and inorganic nanoparticles at nanometre-scale resolution by X-ray ensemble diffraction microscopy

von Chen, Ning Jung
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2025)

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$Protocol using similarity score and improved shrink-wrap algorithm for better convergence of phase-retrieval calculation in X-ray diffraction imaging$

Protocol using similarity score and improved shrink-wrap algorithm for better convergence of phase-retrieval calculation in X-ray diffraction imaging

von Yoshida, Syouyo
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2024)

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$Similarity score for screening phase-retrieved maps in X-ray diffraction imaging - characterization in reciprocal space$

Similarity score for screening phase-retrieved maps in X-ray diffraction imaging - characterization in reciprocal space

von Takayama, Yuki
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2024)

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$X-ray diffraction imaging of fully packaged n-p-n transistors under accelerated ageing conditions$

X-ray diffraction imaging of fully packaged n-p-n transistors under accelerated ageing conditions

von Tanner, Brian K
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2022)

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$Simultaneous scanning near-field optical and X-ray diffraction microscopy for correlative nanoscale structure-property characterization$

Simultaneous scanning near-field optical and X-ray diffraction microscopy for correlative nanoscale structure-property characterization

von Li, Qian
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2019)

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$Diffraction apparatus and procedure in tomography X-ray diffraction imaging for biological cells at cryogenic temperature using synchrotron X-ray radiation$

Diffraction apparatus and procedure in tomography X-ray diffraction imaging for biological cells at cryogenic temperature using synchrotron X-ray radiation

von Kobayashi, Amane
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2018)

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7

$Nondestructive X-ray diffraction measurement of warpage in silicon dies embedded in integrated circuit packages$

Nondestructive X-ray diffraction measurement of warpage in silicon dies embedded in integrated circuit packages

von Tanner, B K
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2017)

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$Crack propagation and fracture in silicon wafers under thermal stress$

Crack propagation and fracture in silicon wafers under thermal stress

von Danilewsky, Andreas
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2013)

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