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Tanner, Brian K
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X-ray diffraction imaging of fully packaged n-p-n transistors under accelerated ageing conditions
par
Tanner
,
Brian
K
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2022)
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2
Crack propagation and fracture in silicon wafers under thermal stress
par
Danilewsky, Andreas
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2013)
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...
Tanner
,
Brian
K
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