Rapid detection of rare events from in situX-ray diffraction data using machine learning

© Weijian Zheng et al. 2024.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied crystallography. - 1998. - 57(2024), Pt 4 vom: 01. Aug., Seite 1158-1170
1. Verfasser: Zheng, Weijian (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Park, Jun-Sang, Kenesei, Peter, Ali, Ahsan, Liu, Zhengchun, Foster, Ian, Schwarz, Nicholas, Kettimuthu, Rajkumar, Miceli, Antonino, Sharma, Hemant
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of applied crystallography
Schlagworte:Journal Article high-energy diffraction microscopy machine learning