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  1. 1
    Rapid detection of rare events from in situX-ray diffraction data using machine learning
    Rapid detection of rare events from in situX-ray diffraction data using machine learning
    von Zheng, Weijian
    Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2024)
    Weitere Verfasser: “...Kenesei, Peter...”

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  2. 2
    Repeatability and sensitivity characterization of the far-field high-energy diffraction microscopy instrument at the Advanced Photon Source
    Repeatability and sensitivity characterization of the far-field high-energy diffraction microscopy instrument at the Advanced Photon Source
    von Park, Jun Sang
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2021)
    Weitere Verfasser: “...Kenesei, Peter...”

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  3. 3
    High-energy micrometre-scale pixel direct conversion X-ray detector
    High-energy micrometre-scale pixel direct conversion X-ray detector
    von Scott, Christopher C
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2021)
    Weitere Verfasser: “...Kenesei, Peter...”

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  4. 4
    Data management and processing workflow for the Materials Physics and Engineering group beamlines at the Advanced Photon Source
    Data management and processing workflow for the Materials Physics and Engineering group beamlines at the Advanced Photon Source
    von Park, Jun Sang
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2019)
    Weitere Verfasser: “...Kenesei, Peter...”

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