Rapid detection of rare events from in situX-ray diffraction data using machine learning

© Weijian Zheng et al. 2024.

Détails bibliographiques
Publié dans:Journal of applied crystallography. - 1998. - 57(2024), Pt 4 vom: 01. Aug., Seite 1158-1170
Auteur principal: Zheng, Weijian (Auteur)
Autres auteurs: Park, Jun-Sang, Kenesei, Peter, Ali, Ahsan, Liu, Zhengchun, Foster, Ian, Schwarz, Nicholas, Kettimuthu, Rajkumar, Miceli, Antonino, Sharma, Hemant
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2024
Accès à la collection:Journal of applied crystallography
Sujets:Journal Article high-energy diffraction microscopy machine learning