Quantifying Dielectric Material Charge Trapping and De-Trapping Ability Via Ultra-Fast Charge Self-Injection Technique

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 36(2024), 19 vom: 09. Mai, Seite e2312148
1. Verfasser: Xu, Shuyan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Wang, Jian, Wu, Huiyuan, Zhao, Qionghua, Li, Gui, Fu, Shaoke, Shan, Chuncai, Li, Kaixian, Zhang, Zhiyi, Hu, Chenguo
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article air breakdown charge self‐injection secondary self‐charge excitation triboelectric nanogenerator triboelectric series