Engineering Atomic-Scale Patterning and Resistive Switching in 2D Crystals and Application in Image Processing

© 2023 Wiley-VCH GmbH.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 35(2023), 51 vom: 09. Dez., Seite e2306850
1. Verfasser: Yin, Lei (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Cheng, Ruiqing, Pan, Shurong, Xiong, Wenqi, Chang, Sheng, Zhai, Baoxing, Wen, Yao, Cai, Yuchen, Guo, Yuzheng, Sendeku, Marshet Getaye, Jiang, Jian, Liao, Weitu, Wang, Zhenxing, He, Jun
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2023
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article 2D crystals atomic-scale patterning cuprous telluride image processing resistive switching