Nanoscale Antiferromagnetic Domain Imaging using Full-Field Resonant X-ray Magnetic Diffraction Microscopy

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Détails bibliographiques
Publié dans:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 34(2022), 29 vom: 05. Juli, Seite e2200639
Auteur principal: Choi, Taeyang (Auteur)
Autres auteurs: Zhang, Zhan, Kim, Hoon, Park, Sunwook, Kim, Jong-Woo, Lee, Kyeong Jun, Islam, Zahir, Welp, Ulrich, Chang, Seo Hyoung, Kim, B J
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2022
Accès à la collection:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Sujets:Journal Article antiferromagnetic domains full-field microscopy resonant magnetic X-ray diffraction