Nanoscale Antiferromagnetic Domain Imaging using Full-Field Resonant X-ray Magnetic Diffraction Microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 34(2022), 29 vom: 01. Juli, Seite e2200639
1. Verfasser: Choi, Taeyang (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Zhang, Zhan, Kim, Hoon, Park, Sunwook, Kim, Jong-Woo, Lee, Kyeong Jun, Islam, Zahir, Welp, Ulrich, Chang, Seo Hyoung, Kim, B J
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2022
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article antiferromagnetic domains full-field microscopy resonant magnetic X-ray diffraction