Hidden Vacancy Benefit in Monolayer 2D Semiconductors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 33(2021), 7 vom: 01. Feb., Seite e2007051
1. Verfasser: Zhang, Xiankun (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Liao, Qingliang, Kang, Zhuo, Liu, Baishan, Liu, Xiaozhi, Ou, Yang, Xiao, Jiankun, Du, Junli, Liu, Yihe, Gao, Li, Gu, Lin, Hong, Mengyu, Yu, Huihui, Zhang, Zheng, Duan, Xiangfeng, Zhang, Yue
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2021
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article defect engineering electrical transport field-effect transistors monolayer MoS2 sulfur vacancies