Novel Tunnel-Contact-Controlled IGZO Thin-Film Transistors with High Tolerance to Geometrical Variability

© 2019 The Authors. Published by WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 31(2019), 36 vom: 16. Sept., Seite e1902551
1. Verfasser: Sporea, Radu A (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Niang, Kham M, Flewitt, Andrew J, Silva, S Ravi P
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2019
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article IGZO amorphous oxide semiconductors source-gated transistors thin-film transistors tunnel barriers