Native mass spectrometry provides sufficient ion flux for XFEL single-particle imaging

open access.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 26(2019), Pt 3 vom: 01. Mai, Seite 653-659
1. Verfasser: Uetrecht, Charlotte (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Lorenzen, Kristina, Kitel, Matthäus, Heidemann, Johannes, Robinson Spencer, Jesse Huron, Schlüter, Hartmut, Schulz, Joachim
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2019
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:Journal Article SPI X-ray free-electron lasers electrospray Ionization native MS structural biology