Native mass spectrometry provides sufficient ion flux for XFEL single-particle imaging

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Détails bibliographiques
Publié dans:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 26(2019), Pt 3 vom: 01. Mai, Seite 653-659
Auteur principal: Uetrecht, Charlotte (Auteur)
Autres auteurs: Lorenzen, Kristina, Kitel, Matthäus, Heidemann, Johannes, Robinson Spencer, Jesse Huron, Schlüter, Hartmut, Schulz, Joachim
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2019
Accès à la collection:Journal of synchrotron radiation
Sujets:Journal Article SPI X-ray free-electron lasers electrospray Ionization native MS structural biology