Fluorescence intensity monitors as intensity and beam-position diagnostics for X-ray free-electron lasers

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Détails bibliographiques
Publié dans:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 26(2019), Pt 2 vom: 01. März, Seite 358-362
Auteur principal: Heimann, Philip (Auteur)
Autres auteurs: Reid, Alexander, Feng, Yiping, Fritz, David
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2019
Accès à la collection:Journal of synchrotron radiation
Sujets:Journal Article X-ray free-electron laser X-ray intensity monitor diagnostics