Fluorescence intensity monitors as intensity and beam-position diagnostics for X-ray free-electron lasers
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Publié dans: | Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 26(2019), Pt 2 vom: 01. März, Seite 358-362 |
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Format: | Article en ligne |
Langue: | English |
Publié: |
2019
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Accès à la collection: | Journal of synchrotron radiation |
Sujets: | Journal Article X-ray free-electron laser X-ray intensity monitor diagnostics |
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