Fluorescence intensity monitors as intensity and beam-position diagnostics for X-ray free-electron lasers

open access.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 26(2019), Pt 2 vom: 01. März, Seite 358-362
1. Verfasser: Heimann, Philip (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Reid, Alexander, Feng, Yiping, Fritz, David
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2019
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:Journal Article X-ray free-electron laser X-ray intensity monitor diagnostics