© 2017 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 30(2018), 2 vom: 27. Jan.
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| 1. Verfasser: |
Wu, Xing
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Luo, Chen,
Hao, Peng,
Sun, Tao,
Wang, Runsheng,
Wang, Chaolun,
Hu, Zhigao,
Li, Yawei,
Zhang, Jian,
Bersuker, Gennadi,
Sun, Litao,
Pey, Kinleong |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2018
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
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| Schlagworte: | Journal Article
III-V semiconductors
breakdown
in situ transmission electron microscope
interfacial defects
oxygen vacancies |
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