X-ray grating interferometer for in situ and at-wavelength wavefront metrology
A wavefront metrology setup based on the X-ray grating interferometry technique for spatially resolved, quantitative, in situ and at-wavelength measurements of the wavefront at synchrotron radiation and hard X-ray free-electron laser beamlines is reported. Indeed, the ever-increasing demands on the...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 24(2017), Pt 1 vom: 01. Jan., Seite 150-162
|
|---|
| 1. Verfasser: |
Kayser, Yves
(VerfasserIn) |
|---|
| Weitere Verfasser: |
David, Christian,
Flechsig, Uwe,
Krempasky, Juraj,
Schlott, Volker,
Abela, Rafael |
|---|
| Format: | Online-Aufsatz
|
|---|
| Sprache: | English |
|---|
| Veröffentlicht: |
2017
|
|---|
| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of synchrotron radiation
|
|---|
| Schlagworte: | Journal Article
X-ray grating interferometry
X-ray optics
XFELs
wavefront metrology |
|---|