A Supercritical Lens Optical Label-Free Microscopy Sub-Diffraction Resolution and Ultra-Long Working Distance

A Supercritical Lens Optical Label-Free Microscopy : Sub-Diffraction Resolution and Ultra-Long Working Distance

© 2016 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 29(2017), 8 vom: 21. Feb.
1. Verfasser: Qin, Fei (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Huang, Kun, Wu, Jianfeng, Teng, Jinghua, Qiu, Cheng-Wei, Hong, Minghui
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2017
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article far-field label-free optical imaging planar lens super-resolution
Online verfügbar Volltext