In Operando X-Ray Nanodiffraction Reveals Electrically Induced Bending and Lattice Contraction in a Single Nanowire Device

In Operando X-Ray Nanodiffraction Reveals Electrically Induced Bending and Lattice Contraction in a Single Nanowire Device

© 2015 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 28(2016), 9 vom: 02. März, Seite 1788-92
1. Verfasser: Wallentin, Jesper (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Osterhoff, Markus, Salditt, Tim
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2016
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article X-ray nanodiffraction lattice contraction single nanowire devices
Online verfügbar Volltext